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产品信息 - 电子测量仪器 - 元器件测试仪 - LCR表

品牌:
品名型号:MT4070D
所属类别:产品信息 >> 电子测量仪器 >>元器件测试仪 >> LCR表
产品简介:量测范围0.1μH ~ 200H/0.1pf ~ 20,000μF/1mΩ ~ 20MΩ 耗散因数量测 归零调整 量测速度快

详细介绍

标配及选购配件

软件及说明书

应用方案

优惠促销

MT4070D手持LCR表可以进行低电阻(到2Ω)、高电感(到200H)、大电容(到20000ΩF)测量。

性能特点:
 ·电感测量范围:0.1μH200H
 ·电容测量范围:0.1pF--200000ΩF
 ·电阻测量范围:1MΩ--20MΩ
 ·损耗因子测量
 ·零点调节
 ·响应速度快

技术指标:
 ·测量范围和精度
 ·电容量

范围

精度

分辨率

测试条件

200pf

1%+2

0.1pf

并联1KHz, 0.5Vrms

2nf

1pf

20nf

10pf

200nf

100pf

2μf

1000pf

20μf

0.01μf

串联120Hz, 1mArms

200μf

0.1mf

串联120Hz, 10mVrms

2mf

2%+10

1μf

20mf

10μf

·损耗因子 

范围

精度

0~1.999

2000pf

2nfCx2μ

μ

20mf

N.S

1%+10+2000 CX

2%+20+2000 Cx

N.S


Cx:电容量读数
精度测量条件:电容从满刻度的20%100%,在串联模式下的精度测量
·电感

测量范围


精度

分辨率

测试条件

200μH

2%+2

0.1μH

串联

10mArms,1kHz

2mH

1%+2

1μH

10mArms,1kHz

20mH

10μH

1mArms,1kHz

200mH

100μH

0.1mArms,1kHz

2H

2%+2

1mH

并联120Hz,
0.5Vrms

20H

10 mH

200H

3%+2

100 mH

精度测量条件:电感从满刻度的10%100%,在并联模式下的精度测量
 ·损耗因子

测量范围

精度

0~1.999

Lx200 mH

200 mH<200H

1%+10+2000 Cx

2%+20+2000 Lx


Cx:电感读数
精度测量条件:电感从满刻度的20%100%,在并联模式下的精度测量
·电阻

测量范围内

精度

分辨率

测试条件

2Ω

1%+5

1mΩ

串联1KHz

10mArms

20Ω

10mΩ

10mArms

200Ω

1%+2

100mΩ

1mArms

2kΩ

1Ω

0.1mArms

20kΩ

10Ω

10μArms

200kΩ

100Ω

1μArms

2mΩ

2%+2

1kΩ

并联1KHz,0.5Vrms

20mΩ

10kΩ

·精度:读数%+位数;
·精度测量条件:电阻从满刻度的10%100%,在并联模式下的精度测量

选配件:贴片元器件测试夹TL06S

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